我國引進*納米離子探針通過驗收

 我國引進的*臺NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收會于近日在中國科學院地質于地球物理研究所召開。中國科學院地質于地球物理研究所副所長吳福元研究員為組長的專家組認真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、François Hillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器的驗收指標有關問題進行了提問，一致認為該儀器的技術參數不僅全部達到合同要求，大部分還優于合同要求的驗收指標。

    納米離子探針具有*的空間分辨率（Cs+源束斑小于 50nm，O-源束斑小于200nm），與我所已有的CAMECA ims 280高精度離子探針互補，構成上非常先進的的離子探針分析平臺。新引進的NanoSIMS 50L型納米離子探針配置了7個信號檢測器（每個配置法拉第杯和電子倍增器），可以同時測量7個同位素（或元素），分析精度好于千分之一。該儀器可以分析除稀有氣體以外，元素周期表中從H至U的全部同位素（元素），并能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進，為我國比較行星學、地球科學、材料科學、以及生命科學等領域提供了新的大型實驗分析平臺。